更新日期:2020-10-08
三箱冷熱沖擊測(cè)試箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化。
品牌 | 豪恩 | 加工定制 | 是 |
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分類 | 沖擊試驗(yàn)箱 |
三箱冷熱沖擊測(cè)試箱
簡(jiǎn)介
三箱冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在zuì短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。
用途
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。
主要技術(shù)參數(shù)
環(huán)境條件 環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下(即空載時(shí))
測(cè)試方法 GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001
規(guī)格型號(hào) HE-LR-80S
內(nèi)箱容量 80升
內(nèi)箱尺寸 寬500×高400×深400(MM)
外形尺寸 寬1500×高1850×深1500(MM)
設(shè)備總重量約 600Kg
使用電源 AC 三相 五線 380V 50HZ
總功率約 23KW
隔層架 2個(gè)(承重20kg)
高低溫區(qū)溫度范圍 1.高溫區(qū)部分:RT(常溫)~+180℃
2.低溫區(qū)部分:RT(常溫)~-65℃
溫度測(cè)試范圍 1.高溫:+60℃~+150℃
2.低溫:-10℃~-40℃
高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間 ≤10S
高低溫恢復(fù)時(shí)間 3~5min(非線性空載下)
解析度 ±0.1℃
控制精度 ±0.5℃
溫度偏差 ±2.0℃
預(yù)熱區(qū)升溫速度 ≤30分鐘
預(yù)冷區(qū)降溫速度 ≤80分鐘
溫度暴露時(shí)間 高溫區(qū),低溫區(qū)各30分鐘
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
2、GB/T2423.2-2001;
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
4. GJB150.3-86;
5. GJB150.4-86;
6. GJB150.5-86;
7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);
10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式;
11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;
12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。
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