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三箱冷熱沖擊測(cè)試箱

更新日期:2020-10-08

簡(jiǎn)要描述:

三箱冷熱沖擊測(cè)試箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化。

品牌豪恩加工定制
分類沖擊試驗(yàn)箱

三箱冷熱沖擊測(cè)試箱

簡(jiǎn)介

三箱冷熱沖擊測(cè)試箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在zuì短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)。

用途

用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具。

 

主要技術(shù)參數(shù)

環(huán)境條件    環(huán)境溫度為+5~+28℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下(即空載時(shí))

測(cè)試方法    GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

規(guī)格型號(hào)    HE-LR-80S

內(nèi)箱容量    80升

內(nèi)箱尺寸    寬500×高400×深400(MM)

外形尺寸    寬1500×高1850×深1500(MM)

設(shè)備總重量約    600Kg

使用電源    AC 三相 五線 380V 50HZ

總功率約    23KW

隔層架  2個(gè)(承重20kg)

高低溫區(qū)溫度范圍    1.高溫區(qū)部分:RT(常溫)~+180℃

2.低溫區(qū)部分:RT(常溫)~-65℃

溫度測(cè)試范圍    1.高溫:+60℃~+150℃

2.低溫:-10℃~-40℃

高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間  ≤10S

高低溫恢復(fù)時(shí)間  3~5min(非線性空載下)

解析度  ±0.1℃

控制精度    ±0.5℃

溫度偏差    ±2.0℃

預(yù)熱區(qū)升溫速度  ≤30分鐘

預(yù)冷區(qū)降溫速度  ≤80分鐘

溫度暴露時(shí)間    高溫區(qū),低溫區(qū)各30分鐘

 

標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;

4. GJB150.3-86;

5. GJB150.4-86;

6. GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;

12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;

10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;

11、GB/T 2423.22-2002溫度變化;

12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則;

13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估。

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