更新日期:2021-05-19
高低溫低氣壓實驗設(shè)備安全保護(hù):具有漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)
品牌 | 豪恩 | 加工定制 | 是 |
---|---|---|---|
分類 | 其他 | 內(nèi)箱材質(zhì) | SUS 304鏡面不銹鋼 |
外箱材質(zhì) | 冷板噴塑處理 | 溫度范圍 | -40℃~+150℃℃ |
波動/均勻度 | ±2.0℃℃ | 電源電壓 | 380v |
高低溫低氣壓實驗設(shè)備
一、用途:豪恩系列高低溫低氣壓實驗設(shè)備主要用于航天、電子、國防、科研和其它工業(yè)部門確定電工的電子科技產(chǎn)品(包括元器件、材料和儀器儀表)。在高低溫低氣壓單項或同時作用下,進(jìn)行貯存運(yùn)輸可靠性試驗,并可同時對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測試。
二、標(biāo)準(zhǔn)依據(jù):
GB10590-89 低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件;
GB15091-89 高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件;
GB11159-89 低氣壓試驗箱技術(shù)條件;
GB/T2423.25-1992 低溫/低氣壓綜合試驗箱;
GB/T2423.26-1992 高溫/低氣壓綜合試驗箱;
GJB150.2-86 低溫/低氣壓(高度)試驗。
GB 2423.27-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAMD:低溫低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗方法》
GBT 2423.25-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZAM:低溫低氣壓綜合試驗》
GBT 2423.26-92《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBM:高溫低氣壓綜合試驗》
三、主要技術(shù)參數(shù):
東莞市豪恩檢測儀器有限公司
© 2024 版權(quán)所有:東莞市豪恩檢測儀器有限公司 備案號:粵ICP備13048675號 總訪問量:272163 站點地圖 技術(shù)支持:環(huán)保在線 管理登陸